Vacaciones, verano y la mejor lectura en Buscalibre  Ver más

menú

0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional
Envío gratis
portada Silicon Non-Volatile Memories: Paths of Innovation (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
256
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.4 x 15.5 x 2.0 cm
Peso
0.52 kg.
ISBN
1848211058
ISBN13
9781848211056

Silicon Non-Volatile Memories: Paths of Innovation (en Inglés)

Barbara De Salvo (Autor) · Wiley-Iste · Tapa Dura

Silicon Non-Volatile Memories: Paths of Innovation (en Inglés) - De Salvo, Barbara

Libro Físico

$ 2,824.69

$ 5,649.38

Ahorras: $ 2,824.69

50% descuento
  • Estado: Nuevo
  • Quedan 100 unidades
Origen: Reino Unido (Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el Martes 16 de Julio y el Jueves 25 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de México entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Reseña del libro "Silicon Non-Volatile Memories: Paths of Innovation (en Inglés)"

Semiconductor flash memory is an indispensable component of modern electronic systems which has gained a strategic position in recent decades due to the progressive shift from computing to consumer (and particularly mobile) products as revenue drivers for Integrated Circuits (IC) companies. This book provides a comprehensive overview of the different technological approaches currently being studied to fulfill future memory requirements. Two main research paths are identified and discussed. Different "evolutionary paths" based on the use of new materials (such as silicon nanocrystals for storage nodes and high-k insulators for active dielectrics) and of new transistor structures (such as multi-gate devices) are investigated in order to extend classical floating gate technology to the 32 nm node. "Disruptive paths" based on new storage mechanisms or new technologies (such as phase-change devices, polymer or molecular cross-bar memories) are also covered in order to address 22 nm and smaller IC generations. Finally, the main factors at the origin of these phenomena are identified and analyzed, providing pointers on future research activities and developments in this area.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes