Name: VLSI Design and Test: 26th International Symposium, Vdat 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)
Price: 2617.88 MXN
Availability: InStock
Author: Shah, Ambika Prasad ; Dasgupta, Sudeb ; Darji, Anand
ISBN: 9783031215131

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portada VLSI Design and Test: 26th International Symposium, Vdat 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Shah, Ambika Prasad ; Dasgupta, Sudeb ; Darji, Anand

Idioma

Inglés

N° páginas

596

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 3.1 cm

Peso

0.85 kg.

ISBN13

9783031215131

Categorías

Tecnología de la información: cuestiones generales
Hardware | soporte físico del ordenador
Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

VLSI Design and Test: 26th International Symposium, Vdat 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)

Shah, Ambika Prasad ; Dasgupta, Sudeb ; Darji, Anand (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "VLSI Design and Test: 26th International Symposium, Vdat 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)"

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.