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Libros de Tecnología: cuestiones generales

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems) (en Inglés)

Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami

John Wiley & Sons Inc, 2016, 1 edición, Tapa Dura, Nuevo

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